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高精度薄膜測(cè)厚儀

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更新時(shí)間:2021-06-29 16:46:09瀏覽次數(shù):385

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高精度薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

詳細(xì)介紹

高精度薄膜測(cè)厚儀

 

高精度薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用范圍

適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

 

高精度薄膜測(cè)厚儀主要特點(diǎn)

接觸式測(cè)量原理

進(jìn)口測(cè)厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機(jī)交互界面顯示

真彩色液晶顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù)、結(jié)果

手動(dòng)、循環(huán)、預(yù)約定時(shí)多種測(cè)量模式

測(cè)試過程全自動(dòng)完成

內(nèi)嵌平均值、標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能

本機(jī)內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能

配置微型打印機(jī),可自動(dòng)打印單次、統(tǒng)計(jì)報(bào)告

配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口

可支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理(選購)

 

高精度薄膜測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍:02mm(標(biāo)配)

010mm(可選)

率:0.1μm

測(cè)量速度:1~25/min(可調(diào))

測(cè)   頭:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(標(biāo)配)

      張:200mm2,50±1kPa(可選)

      源:AC 220V 50Hz

外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

      重:38kg

 

高精度薄膜測(cè)厚儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 6672GB/T 451.3、GB/T 6547ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、ISO 4593ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983BS 4817

 

高精度薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品配置

主機(jī)、薄膜測(cè)量頭、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件

 

注:產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)!

 

 

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