顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志，主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。下面對傳統(tǒng)的顯微鏡進行分類描述。金相顯微鏡是將傳統(tǒng)的光學顯微鏡與計算機通過光電轉換有機的結合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。金相顯微鏡主要反映和表征構成材料的相和組織組成物、晶粒、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。具備以下特點：1、采用世界上優(yōu)秀的無限遠雙重色彩校正及反差增強型光學系統(tǒng)，為用戶提供銳利的圖像。2、采用5種上部部件和3種下部部件及兩個立柱組合方式，可根據(jù)您對材料檢測的要求和經濟成本進行任意靈活的組合，可實現(xiàn)對透明材料、不透明材料以及熒光材料的分析，同時具有強大的升級空間，保證您未來的檢測要求。3、業(yè)界大式樣高度可達到380毫米的，提供非凡的操作空間。4、貼近用戶的靈活性，設備的部件升級無需專業(yè)人員，用戶可自行操作完成。偏光顯微鏡偏光顯微鏡是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨清楚，也可用染色發(fā)來進行觀察，但有些物體則不能觀察，必須利用偏光顯微鏡。偏光顯微鏡的特點：就是將普通光改變?yōu)槠膺M行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射或雙折射性。雙折射性是晶體的基本特性，因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物，化學等領域。偏光鏡檢術的方式正相鏡檢：又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡，同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。錐光鏡檢：又稱干涉鏡檢，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。偏光顯微鏡在裝置上的要求1、光源：好采用單色光，因為光的速度，折射率和干涉現(xiàn)像因波長的不同而有差異。2、目鏡：要帶有十字線的目鏡。3、聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。4、伯特蘭透鏡：這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。偏光鏡檢術的要求1、載物臺的中心與光軸同軸。2、起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置。3、制片不宜過薄。體視顯微鏡體視顯微鏡又稱實體顯微鏡或解剖鏡。由一個共用的初級物鏡，對物體成像后的兩光束被兩組中間物鏡變焦分開，并成一體視角再經各自的目鏡成像，它的倍率變化是由改變中間鏡組之間的距離而獲得。是一種具有正像立體感地目視儀器，被廣泛地應用于生物學、醫(yī)學、農林、工業(yè)及海洋生物各部門。具有如下地特點：1、雙目鏡筒中的左右兩光束不是平行，而是具有一定的夾角（一般為12度至15度），因此成像具有三維立體感。2、像是直立的，便于操作和解剖，這是由于在目鏡下方的棱鏡把像倒轉過來的緣故。3、雖然放大率不如常規(guī)顯微鏡，但其工作距離很長 。4、焦深大，便于觀察被檢物體的全層。5、視場直徑大。;