徠卡光學表面測量系統(tǒng) DCM8
具有更高的精確度和可重復性
您所查看的產(chǎn)品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復雜的形貌?使用高清共聚焦顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)2納米的垂直分辨率。
您所查看的產(chǎn)品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?可從以下三種干涉測量模式中選擇:垂直掃描干涉測量(VSI);
相移干涉測量(PSI)或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量(ePSI)。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像,
則Leica DCM8可提供明視場模式和暗視場模式。