激光平面干涉儀XQ15-GI

用途：

　　可廣泛用于工廠的計(jì)量室、光學(xué)車間和科研院所的實(shí)驗(yàn)室。光學(xué)平面的平面度測(cè)量、光學(xué)平板的微小楔角測(cè)量、光學(xué)材料均勻性測(cè)量、光學(xué)薄板波前誤差的測(cè)量。

特點(diǎn)：

　　防震性能好、有的條紋鎖定度、視場(chǎng)清晰、生產(chǎn)場(chǎng)所可用性優(yōu)于市場(chǎng)同類產(chǎn)品，大容量的工作室為大批量生產(chǎn)企業(yè)的大鏡面檢測(cè)提供了方便。

標(biāo)準(zhǔn)平面（A面），工作直徑D1=Φ146mm，平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)

第二標(biāo)準(zhǔn)平面（B面），工作直徑D2=Φ140mm，平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)

準(zhǔn)直系統(tǒng)----------------－工作直徑Φ146mm，焦距 f = 400mm

光源規(guī)格----------------－激光ZN18(He-Ne)

干涉室尺寸----------------Φ480×380×285mm

可選配攝像裝置