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高低溫?zé)崃鲀x

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  • 所在地 東莞市

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更新時間:2024-01-15 12:10:33瀏覽次數(shù):388

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產(chǎn)品簡介

高低溫?zé)崃鲀x可針對眾多元器件中的如下某個單獨元器件,將其獨立進行高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗等,而不影響其他周邊元器件,與傳統(tǒng)冷熱沖擊箱相比溫變沖擊速率更快。適用于半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMCPCBs、IC器件、MCMs、小型模塊組件、光通訊(如收發(fā)器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、其它電子行業(yè)。

詳細介紹

產(chǎn)品特點
產(chǎn)品定位
為航天、航空、電子、汽車、電池等產(chǎn)品與質(zhì)檢所、研究院、高等院校等試驗單位,提供虛空間模擬真實環(huán)境,對產(chǎn)品檢驗、研發(fā)成果的驗證,試驗箱是縮短開發(fā)周期,提升產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性*得力助手。

一、產(chǎn)品優(yōu)勢:

1、高低溫?zé)崃鲀x是精密氣流溫度循環(huán)沖擊系統(tǒng);

2、具有廣泛的溫度范圍,提供了的溫度轉(zhuǎn)換測試能力;

3、超快速升降溫控制系統(tǒng),在溫度范圍以內(nèi)轉(zhuǎn)換時間僅要10s;

4、純機械制冷,無需其它制冷劑經(jīng)濟環(huán)保;

5、可以實現(xiàn)更加精細的流量沖擊以及溫度控制;

6、可以配置流量、極限低溫以及控制方式以及功率尺寸使用場地更加靈活。

二、測試標(biāo)準(zhǔn):

1、GB/T 2423.1-2008試驗A:低溫試驗方法 ;

2、GB/T 2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法 ;

3、GB/T2423.22-2012試驗N: 溫度變化試驗方法 ;

4、GJB/150.3-2009高溫試驗 ;

5、GJB/150.4-2009低溫試驗 ;

6、GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗 ;

規(guī)格圖紙

一、基本參數(shù)

1、型號:SM-65-5501P

2、溫度范圍:-65~220℃

3、控溫精度:±1℃

4、溫度變化速度(空載):

-50℃~+150℃,升溫10秒

+150℃~-50℃,降溫15秒

5、氣流輸出:100~550 SLM

6、外箱尺寸:680*800*1050mm (可定制)

7、校準(zhǔn)方式 :手動校準(zhǔn)

8、電源 : 220v/50HZ

9、溫度傳感器 :T型熱電偶

10、狀態(tài)顯示 :溫度設(shè)定且實時顯示

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