IM3570阻抗分析儀

1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查● LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線(xiàn)圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量●......

1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查

● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
● LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線(xiàn)圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
● 可以用于無(wú)線(xiàn)充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400