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JIMA RT RC-05B 分辨率測(cè)試卡

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參   考   價(jià): 1000

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地深圳市

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更新時(shí)間:2024-07-04 15:50:57瀏覽次數(shù):361次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新

JIMA RT RC-05B 分辨率測(cè)試卡是一款采用最1新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。

詳細(xì)介紹

一、JIMA RT RC-05B 分辨率測(cè)試卡詳細(xì)介紹:

JIMA RT RC-05B是一款采用最1新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。

JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米(3 µ m至50 µ m)的分辨率。這對(duì)應(yīng)于6微米和100微米(6 µ m和100 µ m)之間的焦斑尺寸。



JIMA RT RC-05B 分辨率測(cè)試卡
16組I&T布局,2x2 mm,8x8 mm硅基,如上圖

下圖為尺寸為5 μm I&T的圖像

JIMA RT RC-05B 分辨率測(cè)試卡

Au Slit的數(shù)量為3行和2個(gè)空格

寬度3至10 μm:T形布局

寬度15至50 μm:I形布局L/S寬度

L/S寬度:3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm








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