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X熒光貴金屬檢測(cè)儀 Smart100 Plus

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更新時(shí)間:2023-04-01 10:15:43瀏覽次數(shù):297

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產(chǎn)品簡介

性能特點(diǎn)快,1秒鐘出結(jié)果采用行業(yè)*的極速探測(cè)器——(F-SDD)分辨率較低至125eV優(yōu)勢(shì):F-SDD的探測(cè)面積大(面積達(dá)25mm)、探測(cè)面積越大,單位時(shí)間內(nèi)接受到的信號(hào)越多

詳細(xì)介紹

性能特點(diǎn)

快,1秒鐘出結(jié)果

采用行業(yè)*的極速探測(cè)器——(F-SDD)分辨率較低至125eV
優(yōu)勢(shì):F-SDD的探測(cè)面積大(面積達(dá)25mm )、探測(cè)面積越大,單位時(shí)間內(nèi)接受到的信號(hào)越多;且分辨率越低,分辨效果越好;帶來超高的分辨效果及測(cè)試精度

采用行業(yè)*的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢(shì):有效提高輸出效率,實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率,保證采集有效計(jì)數(shù)率超過300KCPS

采用大功率X光管及*的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì):使貴金屬的激發(fā)效率更高

光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì):樣品更換無需關(guān)閉高壓,提高測(cè)試效率與測(cè)試精度

精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭,更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)

單點(diǎn)測(cè)試、多點(diǎn)測(cè)試、網(wǎng)格測(cè)試模式
2D全自動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制,單點(diǎn)測(cè)試、多點(diǎn)測(cè)試、網(wǎng)格測(cè)試模式

自帶高純金測(cè)試曲線
可高效區(qū)分99.9%及99.99%黃金純度

超小樣品檢測(cè)——小可測(cè)到0.2毫米
8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能,可根據(jù)不同樣品進(jìn)行選擇
準(zhǔn)直器小可達(dá)0.2毫米,針對(duì)超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測(cè)

可配備貴金屬有害元素測(cè)試軟件
可測(cè)量貴金屬中有害元素,鉛、鎘等

人性化的設(shè)計(jì)
更快捷:多點(diǎn)測(cè)試,點(diǎn)哪測(cè)哪

應(yīng)用領(lǐng)域
質(zhì)檢中心
金銀珠寶首飾店貴金屬冶煉廠
首飾加工廠
分析測(cè)試中心
典當(dāng)行貴金屬回收

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