詳細(xì)介紹
產(chǎn)品信息
EC-AFM環(huán)境控制型原子力顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)
- 光學(xué)金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設(shè)計(jì),功能強(qiáng)大
- 同時(shí)具備光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時(shí)工作,互不影響
- 可同時(shí)在普通空氣環(huán)境、液體環(huán)境、溫度控制環(huán)境、惰性氣體控制環(huán)境下工作
- 樣品掃描臺(tái)和激光檢測(cè)頭封閉式設(shè)計(jì),內(nèi)部可充放特殊氣體,無(wú)需增加密封罩
- 激光檢測(cè)采用了垂直光路設(shè)計(jì),配合氣液兩用型探針架可在液體下工作
- 單軸驅(qū)動(dòng)樣品自動(dòng)垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描
- 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針?lè)绞?,保護(hù)探針及樣品
- 超高倍光學(xué)定位系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
- 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%
應(yīng)用案例
技術(shù)參數(shù)
EC-AFM原子力顯微鏡技術(shù)參數(shù)