ICP-MS NexION 350

樣品通量， 最少停機(jī)時(shí)間，儀器設(shè)計(jì)

NexION 350 ICP-MS專為提高元素分析實(shí)驗(yàn)室的效率而設(shè)計(jì)，特別是為納米顆粒分析領(lǐng)域提供了最準(zhǔn)確的表征工具。NexION 350通過非凡的三錐、三重四級(jí)桿和三種工作模式創(chuàng)新技術(shù)化儀器設(shè)計(jì)，降低了背景和干擾，優(yōu)化了信號(hào)的穩(wěn)定性，從而樣品通量和最少停機(jī)時(shí)間。這些功能的結(jié)合可以使實(shí)驗(yàn)室專業(yè)人員在單位時(shí)間內(nèi)運(yùn)行更多的樣品，提供的儀器使用效率，儀器工作流程，使您和您的實(shí)驗(yàn)室更加高效。NexION 350每秒可采集100,000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，(比目前市場上任何其他的ICP-MS速度快10倍以上)，這個(gè)采集速率對(duì)于要求快速的瞬時(shí)數(shù)據(jù)采集分析應(yīng)用是非常理想的，如納米顆粒表征、形態(tài)分析和激光燒蝕聯(lián)用，都能確保關(guān)鍵信息不會(huì)丟失。NexION 350專用納米應(yīng)用模塊——Syngistix，可提供水平的納米檢測與表征。通過與NexION 350的各功能實(shí)現(xiàn)，借此在快速發(fā)展的納米材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的專業(yè)人員可以顯著改進(jìn)實(shí)驗(yàn)過程，如獲得顆粒成分分析及濃度的同時(shí)還可獲知顆粒粒度分布信息。這些結(jié)果都可以在一個(gè)單一運(yùn)行，在不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)直接得到，不再需要繁重的人工計(jì)算。