PLS Plus激光微地貌掃描儀

PLS Plus激光微地貌掃描儀

原理及應(yīng)用：利用線性激光的反射與CCD成像原理，將地表形態(tài)轉(zhuǎn)換成不同物象點位置的電信號，再經(jīng)計算機軟件處理成數(shù)字高程模型（DEM），進(jìn)而評價土壤侵蝕程度或進(jìn)行相關(guān)機理研究。相對于PLS*代產(chǎn)品，掃描速度更快，精度更高，采用筆記本電腦采集數(shù)據(jù)，野外使用更加方便。 

參數(shù)：

·剖面分辨率：0.5 mm

·垂直分辨率：0.1 mm

·測量寬度：60 cm

·測量長度：大3 m

·每分鐘可掃描大于400個剖面

·實驗室和野外都可使用

·沒有土壤類型限制

·數(shù)據(jù)為XYZ 高程或矩陣數(shù)據(jù)

產(chǎn)地：美國

PLS Plus激光微地貌掃描儀