TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)

 

TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)，采用智能光學(xué)跟蹤測量技術(shù)，配備高品質(zhì)光學(xué)設(shè)備，無需貼點(diǎn)即可完成超高精度動態(tài)三維測量，可應(yīng)用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等多個(gè)方面。

基于不同的掃描場景需求，TrackScan-P42可自由切換多種工作模式。34束交叉藍(lán)色激光超快掃描，高效靈活；7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描，細(xì)節(jié)；單束藍(lán)色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù)。

TrackScan-P42可搭配便攜式CMM測量光筆T-Probe，可精準(zhǔn)獲取工件縫隙、孔位、凹槽等復(fù)雜處的高精密點(diǎn)云數(shù)據(jù)。還可以提供開發(fā)接口，與機(jī)器人協(xié)同工作，實(shí)現(xiàn)智能在線批量自動化三維檢測。

    

無需貼點(diǎn)

基于反光標(biāo)記點(diǎn)跟蹤技術(shù)，TrackScan掃描無需貼點(diǎn)，大大提高了工作效率
  

支持接觸式測量

T-Probe靈活性，測量范圍廣，單點(diǎn)重復(fù)性0.030mm，用于接觸測量基準(zhǔn)孔、隱藏點(diǎn)、特征等關(guān)鍵部位
00001. 
      

雙色激光

紅光掃描模式高效靈活，藍(lán)光掃描模式0.020mm超高分辨率，輕松獲取物體細(xì)節(jié)

復(fù)合定位

支持光學(xué)跟蹤和標(biāo)記點(diǎn)跟蹤兩種模式，根據(jù)現(xiàn)場情況靈活切換