當前位置：成都中冷低溫科技有限公司>>試驗箱>>系統(tǒng)>>HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng)

HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng)

返回列表頁

參考價: ￥ 11111

訂貨量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地成都市

在線詢價收藏產(chǎn)品

聯(lián)系方式：羅林查看聯(lián)系方式

更新時間：2024-10-21 14:29:41瀏覽次數(shù)：104次

聯(lián)系我時，請告知來自制藥網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  高低溫測試系統(tǒng)

高低溫

冷熱臺

卡盤

維修服務(wù)

測試杯

熱風罩

氣流儀
  冷阱機

chiller

制冷機

低溫氟冷阱機
  試驗箱

系統(tǒng)

沖擊系統(tǒng)

高低溫試驗箱

HAST
  壓縮空氣干燥器
  zonglen
  維修

  其他品牌

成都中冷低溫科技有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：124條

所在地區(qū)：四川成都市

聯(lián)系人：羅林（運營經(jīng)理）

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	國產(chǎn)	產(chǎn)品大小	中型
產(chǎn)品新舊	全新	結(jié)構(gòu)類型	立式
溫度范圍	+105℃~+150℃

HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng)，HAST測試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu)，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件，對半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長時間使用過程中的老化效應(yīng)。該系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于IC封裝、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料及其它電子零件的可靠性測試。

詳細介紹

（價格僅供參考，請以實際價格為準）

HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng)

HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng)適用于各種封裝形式的射頻場效應(yīng)管、射頻功率器件等半導(dǎo)體芯片的可靠性測試。通過該測試，可以評估芯片在高溫高濕環(huán)境下的性能穩(wěn)定性、壽命以及潛在的失效模式，為芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供重要依據(jù)。

HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng)

B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。

B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定）給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流，電壓，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定，當被測材料實時漏電流超出設(shè)定時，自動切斷被測材料的電壓，可以保護被測元件不被進一步燒毀。