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成都中冷低溫科技有限公司
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更新時(shí)間：2024-10-14 15:37:58瀏覽次數(shù)：202次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 制藥網(wǎng)| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品大小 | 中型 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 | 結(jié)構(gòu)類型 | 立式 |
| 溫度范圍 | +105℃~+150℃ |
微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)。是一種用于評(píng)估微波器件在條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實(shí)際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境，以加速器件的老化過程。
（價(jià)格僅供參考，請(qǐng)以實(shí)際價(jià)格為準(zhǔn)）
微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)
是一種用于評(píng)估微波器件在條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實(shí)際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境，以加速器件的老化過程。
微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng) 應(yīng)用
適用于各種封裝形式的射頻場(chǎng)效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)行溫濕度下反偏試驗(yàn) 。
微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng) 特點(diǎn)
·每顆器件的Vgs獨(dú)立控制
·實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的Id、 Ig
·控制上、下電時(shí)序
·全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中， 可輸出Excel
·試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流 IR變化曲線
微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)
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