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顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1

參   考   價(jià): ￥ 1000

訂  貨  量: ≥1  把

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地北京市

聯(lián)系方式：楊淑君查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2024-09-02 14:35:05瀏覽次數(shù)：442次

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MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng)，具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時(shí)進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對顯微鏡的不同需求。

MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng)，具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時(shí)進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對顯微鏡的不同需求。


成像照片


下圖為使用10X物鏡對50um小孔進(jìn)行透射率測量時(shí)的聚焦和實(shí)測畫面。

實(shí)測圖譜

系統(tǒng)參數(shù)

型號

MicroTEQ-B1

光譜儀

可根據(jù)情況自行選配

顯微反射測量模塊

兼容大部分主流顯微鏡

尺寸

220x172x68 mm

重量

2.8 kg

支持波段

400-700 nm

反射照明zui大支持相機(jī)尺寸

1/2"

測量光斑

  1. 10 um @ 10x 物鏡 @ 100 um 光纖

  1. 50 um @ 10x 物鏡 @ 500 um 光纖

























































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