詳細(xì)介紹
1、 儀器性能特點(diǎn)
F-2000是我公司自主研發(fā)生產(chǎn)的能量色散型X熒光光譜儀,方便快捷的對多種形態(tài)樣品中的元素進(jìn)行快速無損分析(包括對鐵基、鎳基、鈦基、鈷基、銅基等金屬材料中元素含量的檢測均可實(shí)現(xiàn))。
F-2000性能特點(diǎn) | |
測定元素
| Si-PIN探測器:鈦元素—鈾元素
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樣品形態(tài)
| 固體、液體、粉末樣品均可直接檢測
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操作特點(diǎn)
| 一鍵式設(shè)計(jì),操作界面簡單
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安全性能
| 多層保護(hù),避免X射線對人體的輻射傷害
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2、主要技術(shù)指標(biāo)
F-2000主要技術(shù)指標(biāo)包括:探測器、一體化X射線發(fā)生器
(1)探測器
F-2000選用了Si-PIN探測器,用戶可根據(jù)自己的實(shí)際需要來選購。
探測器 Detector | |
類型 |
Si-PIN探測器 |
典型分辨率
| 145ev |
輸出計(jì)數(shù)率
| 30kcps |
峰背比
| >6200 |
(2)一體化X射線發(fā)生器
一體化X射線發(fā)生器
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輸入電壓
| 9—11VDC |
輸入電流
| 0.5A |
輸出電壓
| 50Kv,200uA |
功率
| 4W |
穩(wěn)定性
| 8小時(shí)0.2%
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3、光譜分析系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
(1)32位模/數(shù)轉(zhuǎn)換器
(2)3.5寸高清顯示器
(3)AtomZ510 1.1GHz處理器,1G內(nèi)存
(4)8G工業(yè)級(PQI) CF卡,可以存儲(chǔ)更多數(shù)據(jù)
(5)自定義的XPE操作系統(tǒng),用戶使用更方便
(6)一鍵式設(shè)計(jì),測量停止只需點(diǎn)擊一下按鈕
(7)結(jié)果、譜圖兩種模式自由切換。結(jié)果模式測量數(shù)據(jù)每秒更新,可據(jù)數(shù)據(jù)的穩(wěn)定程度隨時(shí)終止測量
(8)高容量聚合物鋰離子電池,可以連續(xù)使用6小時(shí)
(9)預(yù)留USB接口
4、應(yīng)用領(lǐng)域
適用于金屬合金分析、廢舊金屬回收、合金材料鑒別(PMI)、生產(chǎn)制造控制等領(lǐng)域。
5、 尺寸規(guī)格
長*寬*高:260mm*95mm*280mm
重量:約1.8kg
6、 工作環(huán)境
--溫度范圍:-10℃—40℃。
--相對濕度:≤80%