詳細介紹
奧林巴斯偏光顯微鏡的光學性能
操作簡便,能進行正規(guī)偏振光觀察的小型型號
形體小,能執(zhí)行正規(guī)偏振光觀察和多種延遲測量。容易攜帶,形體小,無需選擇使用場地可靈活運用。
觀察影像實例
減小光學失真的偏振光專用物鏡
最小光學失真的偏振光用物鏡PLN4×P、ACHN-P系列產(chǎn)品和UPLFLN-P系列產(chǎn)品。綜合地提高了偏振光性能,實現(xiàn)了高對比度的偏振光觀察。
改良后的起偏振器和分析儀
專門設計的聚光鏡和偏振光濾鏡,大大增強了偏振光圖像。
*EF值:平行尼科爾和正交尼科爾的亮度比率,EF值越高光學失真越少,表明偏振光特性越好。
操作點集中的小型正像鏡/錐光鏡觀察用中間鏡筒
通過插入或拔出勃氏透鏡切換正像鏡和錐光鏡,以及錐光鏡圖像的對焦、分析儀的裝卸和旋轉、任意角度定位等各種操作都能夠集中進行。
防止影像不穩(wěn)定的高度剛性機架
機體內部的對焦調節(jié)機構、載物臺支撐等各部分的最完善化確保了高度剛性,由此帶來的*光學性能提升了基本性能。與此同時,帶刻度尺的旋轉載物臺實現(xiàn)了高耐久性。
調整瞳間距時十字線也不會傾斜的雙目觀察筒
雙目觀察筒采用了調瞳間距時目鏡的十字線標度不會傾斜的機構??梢哉_的配合偏振光的振動方向。
對應高級偏振光觀察的附件
精密調芯結構
帶有雙向調芯旋鈕的圓形旋轉載物臺,可以輕松調芯。旋轉子阿物臺的每45度位置有扣,使得在正確方向觀察、測量。
可以安裝復式機械載物臺
各種補償板的延遲測量范圍
*R表示延遲。
為提高測量精度,建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。(U-CWE2除外)
補償板
使用數(shù)碼照相機可以記錄保存數(shù)碼圖像
三目觀察筒可以連接數(shù)碼照相機??梢员4婧陀涗洈?shù)碼影像,幫助創(chuàng)建檢查報告??蓮漠嬅尜|量、功能、操作性等方面選擇所需的數(shù)碼照相機。
操作簡便,能進行正規(guī)偏振光觀察的小型型號
形體小,能執(zhí)行正規(guī)偏振光觀察和多種延遲測量。容易攜帶,形體小,無需選擇使用場地可靈活運用。
觀察影像實例
黑云母花崗巖 | 石英閃長巖 | Tencel(天絲)纖維 | 尿酸鈉 |
減小光學失真的偏振光專用物鏡
最小光學失真的偏振光用物鏡PLN4×P、ACHN-P系列產(chǎn)品和UPLFLN-P系列產(chǎn)品。綜合地提高了偏振光性能,實現(xiàn)了高對比度的偏振光觀察。
UPLFLN-P系列產(chǎn)品規(guī)格 | |||
產(chǎn)品名稱 | 數(shù)值孔徑 (N.A.) | 工作距離 (W.D.) | |
UPLFLN4XP | 0.13 | 17.0mm | |
UPLFLN10XP | 0.3 | 10.0mm | |
UPLFLN20XP | 0.5 | 2.1mm | |
UPLFLN40XP | 0.75 | 0.51mm | |
UPLFLN-P系列產(chǎn)品 | UPLFLN100XOP | 1.3 | 0.2mm |
ACHN-P系列產(chǎn)品規(guī)格 | |||
產(chǎn)品名稱 | 數(shù)值孔徑 (N.A.) | 工作距離 (W.D.) | |
ACHN10xP | 0.25 | 6.0mm | |
ACHN20xP | 0.40 | 3.0mm | |
ACHN40xP | 0.65 | 0.45mm | |
ACHN-P系列產(chǎn)品 | ACHN100xOP | 1.25 | 0.13mm |
改良后的起偏振器和分析儀
專門設計的聚光鏡和偏振光濾鏡,大大增強了偏振光圖像。
*EF值:平行尼科爾和正交尼科爾的亮度比率,EF值越高光學失真越少,表明偏振光特性越好。
操作點集中的小型正像鏡/錐光鏡觀察用中間鏡筒
通過插入或拔出勃氏透鏡切換正像鏡和錐光鏡,以及錐光鏡圖像的對焦、分析儀的裝卸和旋轉、任意角度定位等各種操作都能夠集中進行。
橄欖巖(正交偏光鏡) | 二軸晶(黃晶)的錐光鏡圖像 |
防止影像不穩(wěn)定的高度剛性機架
機體內部的對焦調節(jié)機構、載物臺支撐等各部分的最完善化確保了高度剛性,由此帶來的*光學性能提升了基本性能。與此同時,帶刻度尺的旋轉載物臺實現(xiàn)了高耐久性。
調整瞳間距時十字線也不會傾斜的雙目觀察筒
雙目觀察筒采用了調瞳間距時目鏡的十字線標度不會傾斜的機構??梢哉_的配合偏振光的振動方向。
對應高級偏振光觀察的附件
精密調芯結構
帶有雙向調芯旋鈕的圓形旋轉載物臺,可以輕松調芯。旋轉子阿物臺的每45度位置有扣,使得在正確方向觀察、測量。
可以安裝復式機械載物臺
復式機械載物臺 | 可以安裝容易移動樣品的復式機械載物臺。 |
物鏡中心輸出適配器 | 我們?yōu)槟鷾蕚淞藢獓烂艿钠窆庥^察的物鏡調芯適配器。 |
各種補償板的延遲測量范圍
補償板 | 測量范圍 | 主要用途 |
U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 較大的延遲測量(R*>3λ)。 (結晶、高分子、纖維、光彈性失真等) |
U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延遲測量 (結晶、高分子、纖維、生物體組織等) |
U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延遲測量(結晶、生物體組織等) 對比度增強(生物體組織等) |
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm | 微小延遲測量(結晶、生物體組織等) 對比度增強(生物體組織等) |
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | |
U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延遲的近似測量(結晶、高分子等) |
為提高測量精度,建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。(U-CWE2除外)
補償板
使用數(shù)碼照相機可以記錄保存數(shù)碼圖像
三目觀察筒可以連接數(shù)碼照相機??梢员4婧陀涗洈?shù)碼影像,幫助創(chuàng)建檢查報告??蓮漠嬅尜|量、功能、操作性等方面選擇所需的數(shù)碼照相機。