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詳細(xì)介紹
XT-50型沖擊試樣缺口投影儀
一． 項(xiàng)目簡介：
XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T229—1994《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口要求而開發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，對比直觀。
二．方案描述：
本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再以物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。
根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰地投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致。將被測度樣放在工作臺上，旋轉(zhuǎn)工作臺升降手輪，調(diào)焦至影像清晰，再調(diào)整圓工作臺和縱橫向調(diào)節(jié)手輪，使已放大了50倍的試樣V型（或U型）缺口投影圖與本儀器所提供的也放大了50倍的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)尺寸圖對比，即可判斷出沖擊試樣V型（或U型）缺口的幾何尺寸加工質(zhì)量。
三．主要技術(shù)參數(shù)：
1、投影屏直徑： 180mm
2、工作臺尺寸
方工作臺尺寸： 110×125mm
圓工作臺直徑： 90mm
工作臺玻璃直徑： 70mm
3、工作臺行程：
縱向： ±10mm
橫向： ±10mm
升降： ±12 mm （無刻度）
4、工作臺轉(zhuǎn)動范圍： 0～360° （無刻度）
5、儀器放大倍率： 50x
物鏡放大倍率： 2.5x
投影物鏡放大倍率： 20x
6、光源（鹵鎢燈）： 12V 100W
7、電源： 220V 50Hz
8、外形尺寸： 515×224×603mm
9、重量： 約18kg
一． 項(xiàng)目簡介：
XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T229—1994《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口要求而開發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，對比直觀。
本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再以物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。
根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰地投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致。將被測度樣放在工作臺上，旋轉(zhuǎn)工作臺升降手輪，調(diào)焦至影像清晰，再調(diào)整圓工作臺和縱橫向調(diào)節(jié)手輪，使已放大了50倍的試樣V型（或U型）缺口投影圖與本儀器所提供的也放大了50倍的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)尺寸圖對比，即可判斷出沖擊試樣V型（或U型）缺口的幾何尺寸加工質(zhì)量。
三．主要技術(shù)參數(shù)：
1、投影屏直徑： 180mm
2、工作臺尺寸
方工作臺尺寸： 110×125mm
圓工作臺直徑： 90mm
工作臺玻璃直徑： 70mm
3、工作臺行程：
縱向： ±10mm
橫向： ±10mm
升降： ±12 mm （無刻度）
4、工作臺轉(zhuǎn)動范圍： 0～360° （無刻度）
5、儀器放大倍率： 50x
物鏡放大倍率： 2.5x
投影物鏡放大倍率： 20x
6、光源（鹵鎢燈）： 12V 100W
7、電源： 220V 50Hz
8、外形尺寸： 515×224×603mm
9、重量： 約18kg
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