北京高低溫試驗(yàn)箱概要:
大型快速溫變試驗(yàn)箱此設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū),低溫區(qū),測試區(qū)三部份,采之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中,做冷熱沖擊測試,待測品為不移動之方式。
采用原裝日制微電腦大型液晶LCD(320x240Dots)中英文顯示控制系統(tǒng)。高程序記憶容量,可設(shè)定儲存100組程序,大循環(huán)設(shè)定9999Cycles,每段時(shí)間大設(shè)定999Hrs59Mins。
具有RS-232C通信接口裝置,可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控/編輯/記錄及二組動態(tài)接點(diǎn)(TimeSignalRelay),使用便捷。
執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇2Zone或3Zone之功能。
具備全自動,高精度系統(tǒng)回路,任一機(jī)件動作,由P.L.C.鎖定處理。
機(jī)件固障時(shí),配有自動機(jī)回路及警示訊號。發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置。
北京高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))
GB/T2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB150.9A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分:濕熱試驗(yàn)