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表面粗糙度·輪廓測量儀SV-C3200/C4500

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海洛豐精密檢測儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號SV-C3200/SV-C4500
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/5/8 13:11:29
  • 訪問次數(shù)293
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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上海洛豐精密檢測儀器有限公司自2013年成立以來,通過與世界各儀器(如德國ZEISS,美國ZYGO干涉儀,美國菲思圖硬度計,三豐量具量儀,英國泰勒檢測儀,德國菲希爾測厚儀等)公司的良好合作,以及自身良好的經(jīng)營理念,服務(wù)質(zhì)量,已成為國內(nèi)優(yōu)質(zhì)的檢測儀器供應(yīng)商.我們秉承為客戶提供良好檢測儀器的宗旨,已經(jīng)為中船重工,航空航天,高校(東南大學(xué)、浙江工業(yè)大學(xué)、南京理工大學(xué)等),研究所(上海615研究所、上海811研究所、中航614所等)外企(德爾福、輝門、西門子、博世等)及民營企業(yè)(華為、瑞聲集團、立訊集團、水晶光電等)提供了大量高附加值的精密檢測儀器及*的檢測方案.公司擁有一支專業(yè)的銷售及服務(wù)團隊,可以為不同客戶提供各類精密檢測產(chǎn)品的技術(shù)咨詢,設(shè)備改造,維修維護,培訓(xùn)校準(zhǔn)等技術(shù)服務(wù).洛豐始終以"客戶至上,誠信為本"的企業(yè)精神,愿意與各行各業(yè)的用戶進行廣泛的交流與合作,共同進步,共同發(fā)展。
視頻顯微鏡
表面粗糙度測量功能高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺,直接讀取X軸移動距離,在高精度精準(zhǔn)定位下,完成間距參數(shù)的評價。檢出器測力有4mN和0.75mN可選。輪廓測量功能Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比,新
表面粗糙度·輪廓測量儀SV-C3200/C4500 產(chǎn)品信息

規(guī)格:

貨號

SV-C3200S4

SV-C3200H4

SV-C3200W4

SV-C3200S8

SV-C3200H8

SV-C3200W8

 

SV-C4500S4

SV-C4500H4

SV-C4500W4

SV-C4500S8

SV-C4500H8

SV-C4500W8

 

測量表面粗糙度時

 

測量范圍

X(驅(qū)動部)

100mm

200mm

 

Z1(檢出器)

800μm/80μm/8μm

 

直線度

(0.05+L/1000)μm L:驅(qū)動長度(mm

0.5μm/200mm

 

分辨力

Z1(檢出器)

0.01μm ( 800μm ) , 0.001μm ( 80μm ) , 0.0001μm ( 8μm

 

測力

0.75mN  ( 機身代碼末尾帶 "-1" 的型號 )

 

4mN  (機身代碼末尾帶 "-2" 的型號)

 

測針針尖形狀

60o, 2μmR  ( 機身代碼末尾帶 "-1" 的型號 )

 

90o, 5μmR  ( 機身代碼末尾帶 "-2" 的型號 )

 

對應(yīng)尺寸

JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA

 

評價參數(shù)

Pa,Pq,Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,Pq,Pmr(C),Pmr,Pc,Ra,Rq,Rsk,Rku,Rp,Rv,Rz,

 

Rt,Rc,RSm,Rq,Rmr(C),Rmr,Rc,Wa,Wq,Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,Wq,

 

Wmr(C),Wmr,Wc,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,Wx,AW,W,Wte,Ry,RyDIN,

 

RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,Ir,a,a,q,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW

 

評價輪廓

原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動圓波形原始輪廓、滾動圓波形輪廓、包絡(luò)殘余線、 DF  輪廓 ( DIN4776 / ISO13565-1 ) 、表面粗糙度 MOTIF(包絡(luò)波紋輪廓在評價 MOTIF 時顯示)

 
 

分析圖

負(fù)荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關(guān)、 Walsh  功率譜、 Walsh  自相關(guān)、分布、傾斜角分布、參數(shù)分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析)

 
 

曲線補償

最小平方直線、面補償、橢圓補償、拋物線補償、雙曲線補償、二次曲線補償、多項式補償 ( 自動或任意 2~7  ) 、無補償

 
 

曲線補償

高斯濾波器 , 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50,  魯棒樣條濾波器

 

?  輪廓測量

 

測量范圍

X(驅(qū)動部)

100mm

200mm

 

Z1(檢出器)

60mm  ( 測臂水平位置 ±30mm

 

直線度

0.8μm/100mm

2μm/200mm

 

精度

X(驅(qū)動部)

 

Z1(檢出器)

SV-C3200系列:±(1.6+|2H|/100)μm,SV-C4500系列:±(0.8+|2H|/100)μm

 

H:  水平位置上的測量高度 ( mm )

 

分辨力

X(驅(qū)動部)

0.05 μm

 

Z1(檢出器)

SV-C3200  系列 : 0.04μm, SV-C4500  系列 : 0.02μm

 

Z2(立柱)

1 μm

 

測力

SV-C3200  系列 : 30mN  ( 可調(diào)使用重量 )

 

SV-C4500  系列 : 10, 20, 30, 40, 50mN  ( 根據(jù)軟件轉(zhuǎn)換 )

 

測頭方向

SV-C3200  系列垂直方向 ( 向上向下單獨測量 )

 

SV-C4500  系列垂直方向 ( 向上向根據(jù)配重調(diào)整 )

 

?  通用時

 

Z2(立柱)移動量

300mm

500mm

300mm

500mm

 

X 軸傾斜角度

±45o

 

驅(qū)動速度

X

0 - 80mm/s  外加手動

 

Z2(立柱)

0 - 30mm/s  外加手動

 

測量速度

0.02 - 5mm/s

 

 

注 : 雖然天然石材測量桌的外觀各有不同,但材料的穩(wěn)定性是值得信賴的。

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