TEK Keithley 4200A-SCS 泰克半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
使用 4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
直流電流-電壓(I-V)
范圍:10 aA - 1A,0.2 µV - 210 V
電容-電壓:(C-V) 范圍,1 kHz - 10 MHz,± 30V 直流偏置
脈沖 :I-V
范圍:±40 V (80 V p-p),±800 mA,200 MSa/s,5 ns 采樣率
參數(shù)查看,快速清晰。
大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設(shè)置的復(fù)雜程度降低高達(dá) 50%,提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外,嵌入式測量專業(yè)知識(業(yè)界)可提供測試指南并讓您對結(jié)果充滿信心。
特點(diǎn)
· 內(nèi)置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
· 使用數(shù)百個用戶可修改應(yīng)用測試開始您的測試
· 自動實(shí)時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)
測量、 切換、 重復(fù)。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設(shè)置,并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時輕松排除故障。
特點(diǎn)
· 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設(shè)備終端
· 用戶可配置低電流功能
· 個性化輸出通道名稱
· 查看實(shí)時測試狀態(tài)
檢定、 自定義、 。
簡單地說,4200A-SCS 可以*自定義且全面升級,您可以對半導(dǎo)體設(shè)備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學(xué)或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。
特點(diǎn)
· NBTI/PBTI 測試
· 隨機(jī)電報(bào)噪聲
· 非易失內(nèi)存設(shè)備
· 穩(wěn)壓器應(yīng)用測試
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。
4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點(diǎn)
· “點(diǎn)擊”測試定序
· “手動”探測器模式測試探測器功能
· 假探測器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試
降低成本并保護(hù)您的投資
保障計(jì)劃以按需服務(wù)事件的一小部分成本提供快速、高質(zhì)量的服務(wù)。 只需點(diǎn)擊一下或一個電話即可獲得維修服務(wù),在此過程中,無需報(bào)價(jià)或填寫采購單,也不會有審批延誤。